昭和電子工業株式会社 https://validator.w3.org/feed/docs/rss2.html 昭和電子工業について 製造部　矢ケ崎 哲也 製造部　山田 高大 採用情報 測定機 お知らせ トップページ 厚み測定での変位計方式と光干渉方式の違いは何ですか？ 光干渉方式でどんな物の厚みが測定できますか？ 膜厚を測定することはできますか？ 光干渉方式で用いる光源はどのような物ですか？ その他の光学検査機器はありますか？ 検査装置の機構設計・製作も可能ですか？ 新社長中村 由夫が就任いたしました。 システム プリント基板実装サービス